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EDX6000E
EDX6000E

美國原裝電制冷Si-PIN探測器,內置高清攝像頭,準確定位樣品測試區域。

解決方案:合金分析、鍍層檢測、貴金屬分析、考古分析、環境保護、RoHS/無鹵指令檢測、玩具指令檢測標準等多個領域。


EDX8600E系列
EDX8600E系列

3分鐘篩查,9分鐘精確測量,采用進口Fast? SDD探測器,能量分辨率最低可達125eV,元素分析范圍為Na-U,

解決方案:稻谷、糙米、大米、小麥、玉米等糧食中的重金屬Cd、Pb、As、Cr、Se......


EDX8300H
EDX8300H

高效真空測試系統,5秒即可達到真空要求對輕元素的檢測范圍擴展至Na(鈉)元素,更好地應對RoHS、無鹵等環保指令。

解決方案:RoHS、無鹵等環保指令合金分析。


EDX6600
EDX6600

采用美國原裝電致冷高性能Si-PIN探測器,分辨率高,探測范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規材料分析的基本要求。可應用于合金分析、鍍層檢測、貴金屬分析、考古分析、環境保護、ROHS/無鹵指令檢測、玩具指令檢測標準等多個領域。